界面SiO_(x)层对BiFeO_(3)/Si异质结电学性能的影响
构建铁电/半导体异质结构是现代多功能电子器件的重要发展方向。利用溶胶-凝胶方法在不同温度预处理后的n-Si衬底上制备了BiFeO_(3)薄膜。结果表明,衬底预处理使得样品电滞回线细化变形,同时光电流变弱。结合介电–温度谱以及截面高分辨透射电子显微镜等...
硅酸盐学报
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